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改性塑料試驗(yàn)設(shè)備

電壓擊穿試驗(yàn)儀耐電弧測(cè)試儀絕緣電阻試驗(yàn)儀電弱點(diǎn)試驗(yàn)儀電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng) 高壓、低壓漏電起痕試驗(yàn)儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀

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HCDH-4硅橡膠耐電弧試驗(yàn)儀*

更新時(shí)間：2025-01-02

型號(hào)：HCDH-4

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硅橡膠耐電弧試驗(yàn)儀*是根據(jù) GB/T 1411-2002《固體絕緣材料耐高壓低電流電弧放電的試驗(yàn)》（等同 IEC 61621-1997）及 ASTM D495 等標(biāo)準(zhǔn)的要求設(shè)計(jì)制造的，并符合 IEC 149、UL 746A 等試驗(yàn)方法。本儀器由絕緣標(biāo)準(zhǔn)制定單位全國絕緣材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)監(jiān)制。主要用于電機(jī)、電器及家電等行業(yè)的電工用塑料、樹脂膠、絕緣漆
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HCDH-4硅橡膠耐電弧試驗(yàn)測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2025-01-02

型號(hào)：HCDH-4

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HCDH-4硅橡膠耐電弧試驗(yàn)測(cè)試儀器是專門為電氣絕緣材料測(cè)試而開發(fā)的高精密設(shè)備，適于用于電氣絕緣材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在高電壓小電流條件下的測(cè)試。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)研究等用途。
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HCDH-4北京華測(cè)耐電弧試驗(yàn)儀

更新時(shí)間：2025-01-02

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HCDH -4耐電弧試驗(yàn)儀

更新時(shí)間：2025-01-02

型號(hào)：HCDH -4

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HCWP-S高低溫介電溫譜測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2025-07-29

型號(hào)：HCWP-S

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高低溫介電溫譜測(cè)試儀器適用于鐵電壓電陶瓷材料、各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究。用于分析寬頻、高低溫條件下被測(cè)樣品的介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、因數(shù)Q等物理量。該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無機(jī)金屬新材料的應(yīng)用研究科研機(jī)關(guān)、高校、工廠等地方。
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HCRD-300電弱點(diǎn)測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2024-12-16

型號(hào)：HCRD-300

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電弱點(diǎn)測(cè)試儀器主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測(cè)試。該系列產(chǎn)品的主要特點(diǎn)是能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。
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HCWP系列高溫介電溫譜試驗(yàn)儀

更新時(shí)間：2024-06-04

型號(hào)：HCWP系列

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高溫介電溫譜試驗(yàn)儀主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)測(cè)試，系統(tǒng)包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測(cè)試軟件于一體，可測(cè)試材料的介電常數(shù)，介質(zhì)損耗，阻抗譜Co-Co圖，機(jī)電耦合系數(shù)等，同時(shí)可分析被測(cè)樣品隨溫度，頻率，時(shí)間變化的曲線，測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購。
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HCLD-III*電子電工漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2025-06-06

型號(hào)：HCLD-III

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*電子電工漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器HCLD-III為華測(cè)公司2013年重點(diǎn)科研產(chǎn)品之一，高壓漏電試驗(yàn)儀采用控制系統(tǒng)精度高，擯棄了現(xiàn)有的低壓切斷原原理，采用*的高壓真空切斷技術(shù)，使試驗(yàn)過程合理。采用5組電流傳感器用以控制每組試驗(yàn)的高壓切斷，使數(shù)據(jù)采集精確，同時(shí)本設(shè)備采用電力系統(tǒng)過壓過流保護(hù)裝置，使儀器。
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