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  • HCJDCS-G浸漬纖工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)定裝置
    HCJDCS-G浸漬纖工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)定裝置

    更新時(shí)間:2024-08-26

    型號(hào):HCJDCS-G

    瀏覽量:1661

    浸漬纖工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)定裝置: 主要用于測(cè)量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損失角的正切值及電容量。主要可以測(cè)量電容器、互感器、變壓器、絕緣紙、電容器薄膜等各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗(tgδ)和電容量( Cx),其測(cè)量線路采用“正接法”即測(cè)量對(duì)地絕緣的試品。
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  • HCDJCS-G塑料工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)定裝置
    HCDJCS-G塑料工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)定裝置

    更新時(shí)間:2024-08-26

    型號(hào):HCDJCS-G

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    塑料工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)定裝置: 主要用于測(cè)量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損失角的正切值及電容量。主要可以測(cè)量電容器、互感器、變壓器、絕緣紙、電容器薄膜等各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗(tgδ)和電容量( Cx),其測(cè)量線路采用“正接法”即測(cè)量對(duì)地絕緣的試品。
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  • HCJDCS-G樹脂和膠工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)定裝置
    HCJDCS-G樹脂和膠工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)定裝置

    更新時(shí)間:2024-08-26

    型號(hào):HCJDCS-G

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    樹脂和膠工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)定裝置: 主要用于測(cè)量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損失角的正切值及電容量。主要可以測(cè)量電容器、互感器、變壓器、絕緣紙、電容器薄膜等各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗(tgδ)和電容量( Cx),其測(cè)量線路采用“正接法”即測(cè)量對(duì)地絕緣的試品。
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  • HCJDCS-G固體絕緣材料工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀
    HCJDCS-G固體絕緣材料工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀

    更新時(shí)間:2024-08-26

    型號(hào):HCJDCS-G

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    固體絕緣材料工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀: 主要用于測(cè)量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損失角的正切值及電容量。主要可以測(cè)量電容器、互感器、變壓器、絕緣紙、電容器薄膜等各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗(tgδ)和電容量( Cx),其測(cè)量線路采用“正接法”即測(cè)量對(duì)地絕緣的試品。
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  • HCJDCS-G固體絕緣漆工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)定裝置
    HCJDCS-G固體絕緣漆工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)定裝置

    更新時(shí)間:2024-08-26

    型號(hào):HCJDCS-G

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    固體絕緣漆工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)定裝置: 主要用于測(cè)量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損失角的正切值及電容量。主要可以測(cè)量電容器、互感器、變壓器、絕緣紙、電容器薄膜等各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗(tgδ)和電容量( Cx),其測(cè)量線路采用“正接法”即測(cè)量對(duì)地絕緣的試品。
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  • HCJDCS-G北京華測(cè)直銷工頻介電常數(shù)測(cè)定裝置
    HCJDCS-G北京華測(cè)直銷工頻介電常數(shù)測(cè)定裝置

    更新時(shí)間:2024-08-26

    型號(hào):HCJDCS-G

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    北京華測(cè)直銷工頻介電常數(shù)測(cè)定裝置: GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法。
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  • HCLD-III電痕化高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器
    HCLD-III電痕化高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器

    更新時(shí)間:2024-06-05

    型號(hào):HCLD-III

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    電痕化高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》,UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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  • HCLD-III精度高漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器
    HCLD-III精度高漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器

    更新時(shí)間:2024-06-05

    型號(hào):HCLD-III

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    精度高漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》,UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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